Принципы локализации дефектов короткого замыкания выводов микросхем, параллельно подключенных к цифровой шине передачи данных

Журнал: Труды МАИ
Тэги (англ.):  JTAG interface, BGA chip, «short circuit» defect, diagnostics, localization, contactless current sensor, boundary scanning, contour current
Авторы:  Гречишников / Курицкий / Бутько
Выпуск № (Вверх):  118
Файл:  Скачать