Сравнительный анализ тестовых систем ПЛИС и их окружения
Журнал: Труды МАИ
Тэги (англ.): ASIC, FPGA, testing, test system, fault tolerance
Авторы: Брехов / Ратников
Выпуск № (Вверх): 125
Файл: Скачать
Тэги (англ.): ASIC, FPGA, testing, test system, fault tolerance
Авторы: Брехов / Ратников
Выпуск № (Вверх): 125
Файл: Скачать